低温强磁综合探针台在光学兼容性及功能扩展性方面表现卓越，高精度光学适配，多维度光路接入，可通过顶窗和侧窗结构设计，灵活引入不同角度的入射光，满足复杂光学测试需求。
低温强磁综合探针台拥有极为灵活的配置，为满足不同科研及测试需求，提供了丰富多样的扩展模块， 助力实现多种综合测量。常规扩展选件有：基础显微镜光学选件、光电流测试选件、磁光克尔测试选件、拉曼选件、 基础材料电学测量选件、微纳器件测试选件、霍尔效应测量选件、SOT测量选件等。
低温强磁综合探针台集成了高磁场、宽温区和闭环制冷、低振动技术等卓越特性，一套PSM-SM系统即可能够实现电 - 光 - 磁 - 温多模态的原位测量，满足MEMS等器件跨尺度表征的需求，是实验室开展多物理场耦合测试的理想选择。

产品特点：

- 超低温，强磁场
• 采用闭循环制冷，无需消耗液氦，降低实验成本
• 温度范围:2K~300K（无探针臂），支持全温区连续精确控温。宽温区能够模拟多种极端与常规的温度环境，满足不同材料在各种温度条件下的特性科研需求
• 采用高性能超导磁体，实现最高7T磁场强度(3T，3-1-1T矢量可选)，显著提升磁场丰富性

- 低振动

• 满足振动敏感测量：独特的减震技术，双极波纹管平衡结构，实现超低震动；标准系统振动（RMS)小于500nm，安装低振动选件后，系统振动（RMS)小于50nm

- 探针测试方便快捷
• 样品腔采用全屏蔽设计，能够有效减小外界的电磁干扰提高测试的精准度和稳定性
• 探针臂的位移调节在真空腔外操作，独特的探针臂 X-Y-Z调节，可以在不破坏真空的情况下，切换样品上的不同器件进行测试。
• 直流臂采用三同轴接头，漏电性能好，漏电流小于100fA
• 微波臂支持到110GHz，可满足不同类型的微波测试需求
• 系统可安装6个探针臂（直流、微波、光纤可选），可以根据实验需求，灵活搭配，实现对样品多种测试需求，获取更全面的实验数据

- 样品空间大
• 样品座尺寸35mm，探针可探测区域1英寸
• 可对薄膜、块体、粉末和液体等各类样品进行测试，提供多种样品座可供选择，包括光学样品座、粉末样品座、液体样品座以及多电极样品座等
• 样品可以水平或垂直于磁场，方便研究不同磁场特性
• 高精度样品定位：可选XYZR压电位移台实现器件的精准定位
• 预置电学接口：系统预置20根同轴电缆，用于传输电信号，低温端采用FPC 接头通断，能够适应低温环境下的使用要求。

- 兼容性和扩展性强
• 高精度光学兼容：15mm工作距离，支持50x物镜配套使用，便于微观样品的观察和光信号耦合测试。
• 提供多种材料的侧面光窗和顶部光窗，方便将各方向的光路引入样品腔。样品腔周围可搭建各种光学光路，灵活实现各种光学测量
• 提供多种测试选件：纳米量级显微镜光学选件、光电流测试选件、磁光克尔测试选件、拉曼选件、基本电学测量选件、微纳器件电学测试选件、霍尔效应测量选件、SOT 测量选件等，全新方案设计，提供低温强磁环境下材料的光信号和电信号测量的全套解决方案
• 集成智能化控制软件，操作简单，方便数据的记录和导出

技术参数：