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液氮高低温探针台 PSM-LN2系列

液氮高低温探针台 PSM-LN2系列

PSM-LN2系列液氮高低温探针台能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80K-800K高低温真空测试环境,通过外接不同的电学测量仪器,可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测,用于低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

液氮高低温探针台 PSM-LN2系列产品概述

  液氮高低温探针台在科学研究和技术开发中发挥着至关重要的作用。它能够在低温环境下对样品进行各种非破坏性的物理性能和电学性能测试,帮助研究人员深入了解材料或者器件的各种物理性能和电学性能,从而为新材料的研发和应用提供重要的数据支持。


  PSM-LN2系列液氮高低温探针台能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个80K-800K高低温真空测试环境,通过外接不同的电学测量仪器,可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测,用于低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电测试。


特点
• 液氮高低温真空探针台,15分钟内腔体真空度可达到 10E-4torr,液氮消耗量小,降到温度只需0.2L液氮,使用方便快捷同时兼顾经济性。
• 探针臂的位移调节在真空腔外操作,可以在不破坏真空 的情况下,切换样品上的不同器件进行测试。
• 独特的探针臂 X-Y-Z-R四维调节,能满足4英寸样品的测试。
• 真空腔材质为铝制材料,能够有效减小外界的电磁干扰,提高测试的精准度和稳定性
• 探针臂采用三同轴接头,漏电性能好,实测漏电流小于100fA @1V@80K--800K
• 测试温度范围宽,支持80K-800K连续变温。
• 独特设计的柔性探针,将探针安装到铜制弹片上,避免扎针过程中力量过大导致样品或电极损坏
• 上盖采用翻盖结构,换样更便捷。


测试数据


液氮高低温探针台 PSM-LN2系列技术参数

参数和指标:

探针台主机分类
型号PSM-LN2-2
PSM-LN2-2H
PSM-LN2-4
PSM-LN2-4H
温度范围 
80K--500K
80K--800K
80K--500K 
80K--800K
控温稳定性
+/-50mK
+/-100mk
+/-50mK
+/-100mk
样品座
类型及材料无氧铜接地镀金样品座
无氧铜接地样品座 
无氧铜接地样品座
无氧铜接地样品座 
尺寸2寸2寸4寸4寸
可选规格绝缘样品座 (温度只能到400K)
同轴样品座 (温度只能到400K)
三同轴样品座(温度只能到400K)
探针臂
类型直流探针臂
数量4
接头及电缆
三同轴接头+极细同轴低温电缆
漏电流100fA@1V 真空环境中
信号频率
 DC--50MHz
匹配阻抗 
50欧姆
位移范围
Z +/-6.5mm R+/-10°
X+/- 50mm,Y+/- 12.5mm 
X+/- 35mm,Y+/- 12.5mm
Z +/-6.5mm R+/-10°
光学系统
显微镜放大倍数
 10--180倍
分辨率
3微米
视场 
22mm
工作距离
 90--100mm
真空腔
材料铝合金
腔体容积
 4L
 5.5L
整体尺寸
800*800*600
900*900*600
腔体内径
 124mm
155mm
视窗尺寸
 50mm
 100mm
真空腔体窗口
红外吸收窗口
防辐射屏窗口 
N/A标准石英窗口
                 N/A
标准石英窗口
真空度
 5*10E-4 torr
预留接口
2个探针臂接口&2个电学接口
防辐射屏材料
                  N/A
不锈钢
                  N/A
不锈钢
液氮腔体
液氮容量
 0.5L
冷却时间
60分钟到80K
 80分钟到80K
液氮消耗量
0.2L从室温到80K
0.3L从室温到80K
液氮保持时间
 4小时@80K
 3小时@80K
专用振动隔离桌
尺寸
 800*800*800
 900*900*800
桌推
 固定脚&滚轮