您当前的位置：网站首页 > 产品中心 > Janis低温恒温器 > 4K闭循环恒温器
SHI-XG减振型恒温器系统专门用于对振动敏感的实验场合，样品置于真空中。 该系统通过使用氦交换气体和橡胶波纹管将样品与冷头的振动隔离。样品固定在样品台上，样品台与冷头之间无机械性连接，而是通过氦交换气体进行冷却，从而保证样品在降温过程中振动极小。同时恒温器与冷头之间通过橡胶波纹管连接，当二者单独支撑时，冷头通过橡胶波纹管传递给恒温器的振动极低。
SHI-XG减振型恒温器系统专门用于对振动敏感的实验场合，样品置于真空中。 该系统通过使用氦交换气体和橡胶波纹管将样品与冷头的振动隔离。样品固定在样品台上，样品台与冷头之间无机械性连接，而是通过氦交换气体进行冷却，从而保证样品在降温过程中振动极小。同时恒温器与冷头之间通过橡胶波纹管连接，当二者单独支撑时，冷头通过橡胶波纹管传递给恒温器的振动极低。
SHI-4XG-5系统配置：
● RDK-205D二级冷头和水冷压缩机
● 柔性橡胶波纹管连接冷头和恒温器，交换气体型减振设计
● 交换气体多支管阀用于抽真空和填充氦气
● 真空外罩带有电学真空接头、抽真空阀和安全阀
● 标准光学样品托，加热器和温度传感器
特殊SHI-4XG-15-UHV系统 真正的超高真空（UHV）系统，在交换气体减振的情况下可烘烤至500K，可用于扫描探针显微镜测试。该系统配有特殊的防热辐射冷窗，最低温度可达3K。 |
|
带底窗的特殊SHI-4XG-15-UHV 带有底部窗口的超高真空隔振4K闭环制冷系统 |
|
显微镜配置 SHI-4XG-5-M恒温器系统带有水平冷指，用于光学显微镜测试。水平冷指可使样品非常靠近顶部窗口，适用于短焦距显微镜测试。更换样品方便，只需打开水平部分的真空外罩顶窗和防热辐射屏顶窗，即可换样。 系统配置： ● RDK-205D二级冷头和水冷压缩机 ● 柔性橡胶波纹管连接冷头和恒温器，交换气体型减振设计 ● 交换气体多支管阀用于抽真空和填充氦气 ● 真空外罩带有电学真空接头、抽真空阀和安全阀 ● 水平真空外罩延伸，带顶部和底部石英窗口 ● 水平冷指，带光学样品托，加热器和温度传感器 | |
型号SHI-4XG-5
| SHI-4XG-5技术参数（不含实验热负载，额定频率为60 Hz） | |
| 温度范围 | <5K-300K |
| 初始降温时间 | < 2 hours to 10K |
| 电力要求 | 200 VAC, 3-phase, 50/60 Hz, 2.8 KW |
| 冷却水要求 | ~3.3 L/min @ 4-28 °C |
型号SHI-4XG-5-M
| SHI-4XG-5-M技术参数（不含实验热负载，额定频率为60 Hz） | |
| 温度范围 | <4.2K-300K |
| 初始降温时间 | < 2 hours to 10K |
| 电力要求 | 200 VAC, 3-phase, 50/60 Hz, 2.8 KW |
| 冷却水要求 | ~3.3 L/min @ 4-28 °C |
