美国 Lake Shore 低温真空探针台为材料以及早期的电子器件的非破坏电学测量提供了精确的可控环境。
探针台可使物理科学家和研究员通过方便的,可重复的测量进行基础的科学研究并得到连续的结果。探针台是一个多用的灵活的研究平台,可被用于专用的或者多用的团体研究资源。
典型的应用包括样品在整个温度范围内的IV和CV曲线测试,微波测试,光电测试,表征变磁环境下的磁输运特性,理解载流子浓度的霍尔效应测试,和其他材料的研究。
型号 磁场 最多探针臂个数 基本系统温度范围 高温选件 低温选件 样品最大尺寸 真空度 样品座旋转选件
闭循环无液氦低温探针台
CRX-EM-HF 0.6T水平磁场电磁铁 4 8 K - 400 K 20 K - 500 K - 25mm(1in)直径 10-5 torr ±360°(选件)
CRX-VF 2.25T垂直磁场超导磁体 6 10 K - 350 K 10 K - 500 K - 51mm(2in)直径 10-5torr(标准系统);10-7 torr(选件) -
CRX-4K - 6 4.5 K - 350 K 20 K - 500 K - 51mm(2in)直径 10-5 torr -
CRX-6.5k - 6 <10 K - 350 K 20 K - 500 K - 51mm(2in)直径 10-5torr -
液氦液氮消耗低温探针台
FWPX - 6 4.5 K - 475 K - 3.5K 102mm 10-5 torr ±5°
EMPX-HF 0.5T水平磁场电磁铁 4 4.5K - 400K;8K - 400K(带360旋转选件) - 3.2K 25mm 10-5 torr ±360°(选件)
CPX-HF 1T水平磁场超导磁体 4 4.2K - 400K - 2K 25mm 10-5 torr -
CPX-VF 2.5T垂直磁场超导磁体 6 4.2 K - 400 K - 2K 51mm 10-5torr(标准系统)10-7torr(高真空选件) ±5°
CPX - 6 4.2 K - 475 K;10 K - 400 K(带load-lock选件) 20K-675K(高温选件和 load-lock选件配合使用) 2K 51mm 10-5torr(标准系统)10-7torr(高真空选件) ±5°
TTPX - 6 4.2K - 475K 20K - 675K 2k 51mm 10-5 torr -

 

 

 

  • CRX-4K低温探针台主要特点

    采用闭循环制冷机制冷,不需要消耗任何液氦或液氮;基本系统温度范围4.5K 到350K
    高温选件温度范围:20K到500K
    控温稳定性±50mK
    样品更换循环时间<3.5小时
    低振动设计:在样品台<1μm ( X, Y, Z轴)
    频率范围:测量DC到67GHz
    各种样品架适于低噪音,高频,高阻测量
    最大样品尺寸:51mm(2in)直径
    最多可使用6个探针臂

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  • CRX-6.5K低温探针台主要特点

    采用闭循环电制冷,不需要消耗任何液氦或液氮;基本系统温度范围<10 K 到350K
    高温选件温度范围: 20K到675K
    独特的探针臂热沉设计,使探针臂和探针的温度接近于样品台的温度
    控温稳定性±50mK
    一个探针臂上安装有温度监视器
    样品更换循环时间<3.5小时
    低振动设计:样品台位置<2μm ( X, Y, Z轴)
    频率范围:测量DC到67GHz
    各种样品架适于低噪音,高频,高阻测量

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  • CRX-VF低温探针台主要特点

    最大垂直磁场2.25T
    采用闭循环制冷机制冷,不需要消耗任何液氦或液氮;基本系统温度范围:10K到500K
    控温稳定性±50mK
    低振动设计:在样品台<1μm ( X, Y, Z轴)
    频率范围:测量DC到67GHz
    各种样品架适于低噪音,高频,高阻测量
    最大测试样品尺寸51mm(2in)直径
    最多可使用6个探针臂

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  • CRX-EM-HF低温探针台主要特点

    0.6T 水平方向电磁铁磁场
    采用闭循环制冷机制冷,不需要消耗任何液氦或液氮;基本系统温度范围:8K到400K
    控温稳定性±50mK
    样品更换时间<4.5小时
    低振动设计:在样品台<1μm ( X, Y, Z轴)
    频率范围:测量DC到67GHz
    最大测试样品尺寸25mm(1in)直径
    最多可使用4个探针臂
    探针臂3轴方向可调节并可平面内±5度的调整

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  • FWPX低温探针台主要特点

    系统可以使用液氮或液氦制冷;基本系统温度范围3.5K到475K
    控温稳定性±50mK
    频率范围:测量DC到67GHz
    各种样品架适于低噪音,高频,高阻测量
    最大测试样品尺寸102mm(4in)直径
    最多可使用6个探针臂
    探针臂可进行3轴调整和平面内±5度的调整
    样品座可以平面内±5度的调整

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  • EMPX-HF低温探针台主要特点

    0.55T水平电磁铁磁场
    360° 旋转样品座可做为选件提供
    系统可以使用液氮或液氦制冷;基本系统温度范围:3.2K到400K
    控温稳定性±50mK
    频率范围:测量DC到67GHz
    各种样品架适于低噪音,高频,高阻测量
    最大测试样品尺寸25mm(1in)直径
    最多可使用4个探针臂
    探针臂可进行3轴调整和平面内±5度的调整

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  • CPX-HF低温探针台主要特点

    1T水平超导磁场
    系统使用液氦制冷,基本系统温度范围:4.2K到400K
    系统冷却时样品温度可保持在室温,减少结霜的可能性
    频率范围:测量DC到67GHz
    多层防辐射屏设计优化了液氦的消耗量
    最大测试样品尺寸25mm(1in)直径
    最多可使用4个探针臂
    高真空选件,系统真空度可达到10-7 torr
    探针臂能3轴调整和平面内±5度的调整

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  • CPX-VF真空探针台主要特点

    2.5T垂直超导磁场
    系统使用液氦制冷,基本系统温度范围:4.2K到400K
    系统冷却时样品温度可保持在室温,减少结霜的可能性
    频率范围:测量DC到67GHz
    多层防辐射屏设计优化了液氦的消耗量
    最大测试样品尺寸51mm(2in)直径
    最多可使用6个探针臂
    采用高真空选件,真空度达到10-7 torr
    样品座可以平面内±5度的调整

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  • CPX低温探针台主要特点

    系统可以使用液氮或液氦制冷,基本系统温度范围:4.2K到475K
    低温选件和高温选件温度范围分别为:1.5K到400K 20K到675K
    样品台可进行面内±5°旋转
    高真空选件,系统真空度可达到10-7Torr
    控温稳定性50mK
    频率范围:测量DC到67GHz
    最大测试样品尺寸51mm(2in)直径
    最多可使用6个探针臂
    探针臂能3轴调整和平面内±5度的调整

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  • TTPX低温探针台主要特点

    系统可以使用液氮或液氦制冷,基本系统温度范围:4.2K到475K
    低温选件和高温选件温度范围分别为:3.2K到400K 20K到675K
    探针台底部有Ø5 mm (0.2 in)光学通孔
    高真空选件:真空度到10-7Torr
    控温稳定性50mK
    频率范围:测量DC到67GHz
    最大测试样品尺寸51mm(2in)直径
    最多可使用6个探针臂
    探针臂能3轴调整和平面内±5度的调整

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