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懿宏新闻

上海懿宏科学仪器有限公司赞助第十九届全国半导体物理学术会议SPC2013

2013-08-22

 

2013年7月14日至16日,第十九届全国半导体物理学术会议SPC2013在山东威海成功举办。

 

 
会议组照

会议专题如下:

  • 1.半导体自旋电子学
  • 2.宽、窄禁带半导体
  • 3.半导体低维结构器件和物理
  • 4.杂质与缺陷
  • 5.表面与界面物理
  • 6.发光物理与瞬态光谱技术
  • 7.其它相关问题

 

上海懿宏科学仪器有限公司作为主要赞助展商,它经营的低温真空探针台测试系统可以对器件进行非破坏性的测试,器件的最大尺寸可达到51mm(2inch)。它可以对材料或器件的电学特性测量、光电特性测量、参数测量、high Z测量、DC测量、RF测量和微波特性测量提供一个测试平台。一般来讲,纳米电子材料、量子线、量子点和半导体材料是在探针台进行测量的比较典型的材料。系统的探针、测试电缆、样品架都有多种类型可供选择,从而满足不同用户的需要。

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